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全譜光譜分析儀的焦距是什么
全譜光譜分析儀的焦距是什么
一、激發(fā)系統(tǒng)
激發(fā)系統(tǒng)是直讀光譜儀中一個(gè)極為重要的組成部分，它的作用是給樣品提供激發(fā)所需要的能量，使樣品發(fā)光，以便后續(xù)檢測(cè)。每種元素激發(fā)后發(fā)出的光具有特征譜線，這些譜線的強(qiáng)度與樣品中的含量之間具有函數(shù)關(guān)系。
樣品中一般含有多種元素，不同的元素會(huì)發(fā)不同的光。但是這些光全部雜糅在一起，接下來的一步就是把這些復(fù)合光分解成單色光。
激發(fā)系統(tǒng)中可能含有入射狹縫: 在入射光的照射下形成光譜儀成像系統(tǒng)的物點(diǎn)。準(zhǔn)直元件: 使狹縫發(fā)出的光線變?yōu)槠叫泄�。該�?zhǔn)直元件可以是一獨(dú)立的透鏡、反射鏡、或直接集成在色散元件上，如凹面光柵光譜儀中的凹面光柵。
二、分光系統(tǒng)
分光系統(tǒng)是光譜儀器的核心。在直讀光譜儀中普遍使用的是帕邢-龍格裝置，其作用是把不同波長(zhǎng)的復(fù)合光進(jìn)行色散變成單色光。這些單色光與特定元素有特定聯(lián)系（如鈉的焰色反應(yīng)），而光強(qiáng)度可以被直接檢測(cè)出來。
分光系統(tǒng)含有色散元件: 通常采用光柵，使光信號(hào)在空間上按波長(zhǎng)分散成為多條光束。聚焦元件: 聚焦色散后的光束，使其在焦平面上形成一系列入射狹縫的像，其中每一像點(diǎn)對(duì)應(yīng)于一特定波長(zhǎng)。
三、檢測(cè)系統(tǒng)
檢測(cè)系統(tǒng)的核心部件是檢測(cè)器，常見的檢測(cè)器是PMT（光電倍增管）和CCD（電感耦合裝置）。CCD主要針對(duì)有色金屬合金材料的常量分析（C、S、P、N等非金屬測(cè)量不適合），而PMT主要在黑色金屬的測(cè)試方面表現(xiàn)出色（非金屬元素分析比較可靠），對(duì)于純度較高的有色金屬測(cè)試其微量雜質(zhì)含量也是首選。
檢測(cè)系統(tǒng)含有探測(cè)器陣列：放置于焦平面，用于測(cè)量各波長(zhǎng)像點(diǎn)的光強(qiáng)度。該探測(cè)器陣列可以是CCD陣列或其它種類的光探測(cè)器陣列。
在以上與焦距有關(guān)的系統(tǒng)中,出現(xiàn)的聚光和分光,直讀光譜儀中的透鏡與焦距有關(guān)。凸透鏡焦距越小聚光能力越強(qiáng),因?yàn)榻裹c(diǎn)距離透鏡中心近了,光線就強(qiáng)。不同型號(hào)品牌的透鏡中有凹透鏡和凸透鏡，還有平光鏡，將激發(fā)后的光聚焦。
